JEOL 6010LV
|
RÉSOLUTION
- High vacuum mode
4.0 nm à 20 kV 8.0 nm à 3 kV 15.0 nm à 1 kV
- Low vacuum mode
5.0 nm à 20 kV
GROSSISSEMENT
8X à x 300kX
MODES D'IMAGERIE
- en électrons secondaires (SEI)
- en électrons rétrodiffusés (BEI)
|
Microanalyseur X à sélection d’énergie SDD QUANTAX et Détecteur pour la diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD) e-Flash QUANTAX de la marque BRUKER
|
- Résolution en énergie < 129 eV à MnKa
- Taille 30 mm2
- Refroidi par effet
- Excellente performance en matière d'éléments légers et de faible énergie, gamme d'éléments B - Am
- Imagerie CMOS
- Résolution de l'image : 720 x 540 pixel
- Vitesse : jusqu'à 520 images/seconde (fps)
- L'acquisition et le traitement des données s'effectuent à l'aide de la même interface.
|
JEOL 7500F
|
RÉSOLUTION
- 1.0 nm à 15kV
- 1.4 nm à 1kV (mode Gentle beam)
- 2.0 nm à 1kV (mode SEM)
GROSSISSEMENT
MODES D'IMAGERIE
- en électrons secondaires (2 détecteurs SEI ou LEI)
- en électrons rétrodiffusés (LABE)
- en électrons transmis (TED)
POTENTIEL D'ACCÉLÉRATION
- mode SEM : 0.5 à 30 kV (par pas de 10V de 0.5 à 2.9kV et par pas de 100V de 2.9 à 30kV)
- mode GB : de 0.1 à 4 kV (par pas de 100V)
|
Microanalyseur X à sélection d’énergie JED-2300F
|
- Détecteur: Ultra Nine 30
- Taille 30 mm2
- Refroidissement par azote liquide (Dewar 9,5l)
- Résolution meilleure que 138 eV (FWHM) sur la raie du manganèse Ka
- Détection à partir du Bore jusqu’à l’Uranium
|