Microscopes électroniques à transmission

FEI TECNAI 10


 

SOURCE

Filament W

PERFORMANCES À 100 KV

  • TEM point resolution : 0.42 nm
  • TEM line resolution : 0.34 nm
  • TEM Magnification range : 19X - 530kX

MODES D'IMAGERIE

  • mode champ clair (bright field)
  • mode champ sombre (dark field)

POTENTIEL D'ACCÉLÉRATION

  • de 40 kV à 100 kV

FEI TECNAI G² 20


 

SOURCE

Filament LaB6

PERFORMANCES À 200KV

  • TEM point resolution : 0.27nm
  • TEM line resolution : 0.14 nm
  • TEM Magnification range : 25X - 700kX

MODE STEM - HAADF DETECTOR

  • STEM Resolution : 1nm
  • STEM magnification range : 100X - 5MX

POTENTIEL D'ACCÉLÉRATION

  • de 80 kV à 200 kV

Microanalyseur X à sélection d’énergie SDD QUANTAX de la marque BRUKER


 
  • Détecteur: XFlash®6 (Dry Silicon Drift SDD)
  • Taille 30 mm2
  • Refroidissement par effet Peltier
  • Résolution meilleure que 129 eV (FWHM) sur la raie du manganèse Ka
  • Détection à partir du bérillium
  • Logiciel de contrôle ESPRIT